Bem-vindo cliente!

Associação

Ajuda

Shenzhen Saiyiou Electronics Co., Ltd
Fabricante personalizado

Produtos principais:

ybzhan>Casos de sucesso>
Sobre nós

Shenzhen Saiyiou Electronics Co., Ltd

  • E-mail

    jianfei.luo@scieo.cn

  • Telefone

    13310872359

  • Endereço

    502, edifício B, Zhongcheng Industrial Park, Songhe Community Industrial East Road, Longhua Street, Shenzhen

Contato Agora

O dispositivo semicondutor de potência é um dispositivo eletrônico de potência usado para a transformação e o controle de energia elétrica, que desempenha o papel de rectificação, inversão, elevação / redução de pressão, conversor de frequência e outros no circuito, amplamente utilizado em novas indústrias de geração de energia, veículos elétricos, transporte ferroviário e automação industrial. Como o dispositivo geralmente funciona em vários ambientes exigentes, como o nível industrial e o nível de regulamentação do veículo, é necessário realizar testes de confiabilidade de carga elétrica, onde o teste de ciclo de potência é um dos testes chave para avaliar a confiabilidade do pacote do dispositivo de potência.


Antecedentes do cliente

O cliente Z é um fornecedor doméstico de equipamentos de teste de confiabilidade da indústria de componentes eletrônicos e fornecedor de serviços de soluções globais, tem se dedicado ao desenvolvimento, produção e serviço de equipamentos de teste de confiabilidade de componentes eletrônicos, em dispositivos de semicondutores de potência, teste de confiabilidade de módulos IGBT e equipamentos de teste de confiabilidade de circuitos integrados como SoC, MCU e memória.


Pontos de dor de teste pré-cliente

Com o rápido desenvolvimento de dispositivos semicondutores de potência, como SiC e IGBT, a necessidade de testes de confiabilidade está aumentando. O cliente Z necessita principalmente de testes de envelhecimento do ciclo de potência para dispositivos semicondutores de potência, enfrentando os seguintes três principais pontos de dor de teste:

360截图20250113135938715.jpg


l Estabilidade

O número de testes de ciclo de potência geralmente chega a dezenas de milhares de vezes, como o ciclo de potência de segundo ≥ 60.000 vezes, o ciclo de potência de nível de minuto ≥ 15.000 vezes, cada ciclo significa que a fonte de energia de aquecimento precisa ser interrompida uma vez, como a resposta dinâmica na operação da fonte de energia não é oportuna ou a corrente tem grandes flutuações ou até sobrecarregamento, o controle de energia de aquecimento, o funcionamento seguro do dispositivo de potência terá um efeito negativo;

l ondas

O excesso de ondulação pode levar ao sobreaquecimento dos componentes internos do dispositivo, reduzindo a vida útil do dispositivo e afetando gravemente o teste de ciclo de energia por longos períodos;

l Volume

O sistema de teste de ciclo de potência geral requer mais de 3 fontes de energia de grande corrente, como o volume de energia de teste é grande demais e os requisitos de espaço de teste reservado para o cliente são altos.


Nossas Soluções

Para atender às necessidades dos clientes acima, oferecemos a série N36200 de alimentação programável ultra-estável e de baixa onda, que atendeu bem às necessidades iniciais através de longos testes de cenários reais do cliente.

Estabilidade e confiabilidade

Através da seleção otimizada do dispositivo, do sistema de resfriamento e do controle do circuito, a deriva de saída de 24 h (motor de aquecimento de 30 min) ≤0,01%, a deriva de saída de 1000h ≤0,05%, a saída de trabalho por longo tempo é estável, o modo de prioridade CC é suportado, o que garante a saída de grande corrente com zero sobrechoque;

360截图20250113140117621.jpg

L baixa onda

Valor eficaz de onda corrente Irms≤0.1%, corrente de saída mais pura sem interferência;

l Economia de espaço

O espaço 2U suporta uma grande corrente de saída de 1100 A, economizando espaço para testes do usuário.


Além disso, nossa empresa pode fornecer medidores de fonte, fontes de energia de corrente contínua de nível de tensão total e outros produtos para atender às necessidades de teste de confiabilidade de carga de dispositivos de semicondutores de potência HTRB, HTGB e outros.

微信图片_20250113135746.jpg