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Sistema de curva IV de pulso TLP da série ES622

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O sistema de curva IV de pulso TLP da série ES622 é um sistema avançado de caracterização de curva IV projetado para simular as características de domínio temporal de alta potência de eventos ESD (pulsos TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM) e dispositivos de monitoramento (semicondutores, dispositivos separadores, módulos de circuito, etc.). Em comparação com os modelos ES620 e ES621 da geração anterior, o sistema TLP ES622 apresenta especificações mais elevadas, mais funcionalidades, maior escalabilidade e melhor experiência de software.
Detalhes do produto

A ESDEMC Technology LLC foi fundada por Wei Huang em Rolla, Missouri, EUA, em março de 2011.A ESDEMC desenvolve soluções ESD e EMC. A empresa está empenhada em fornecer soluções inovadoras, avançadas, de alta qualidade e econômicas, bem como consultoria geral, serviços de teste e projetos personalizados.Os produtos incluem sistemas de modelo de dispositivo de carregamento (CDM), cabosSistema de evento de descarga (CDE), simulador ESD, atenuador de pulso, sonda de corrente, bateria TEM para emissão/imunização de RF, fonte de alimentação de alta tensão DC, design personalizado de alta tensão/RF.A ESDEMC Technology é membro corporativo da Associação ESD desde 2012.

Sistema de curva IV de pulso TLP da série ES622É um sistema avançado de caracterização de curvas IV projetado para simular as características de domínio temporal de alta potência de eventos ESD (pulsos TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM) e dispositivos de monitoramento (semicondutores, dispositivos separados, módulos de circuito, etc.). Em comparação com os modelos ES620 e ES621 da geração anterior, o sistema TLP ES622 apresenta especificações mais elevadas, mais funcionalidades, maior escalabilidade e melhor experiência de software.

A função de teste de pulso de linha de transmissão (TLP) foi projetada para atender ao mais recente padrão de teste ANSI/ESD STM5.5.1, injetando pulsos retangulares de alta qualidade no dispositivo em teste e registrando a tensão e a corrente passada em ambas as extremidades do dispositivo. O software de teste desenha automaticamente a curva IV do pulso e caracteriza a resposta transitória do dispositivo dentro de uma janela de tempo em nanosegundos. O dispositivo integra métodos avançados de detecção automática de falhas de dispositivos, como: detecção de ponto único DC (V ou I), curvas IV estáticas, fusão, ruptura e flutuações de origem de viés.

O teste VF-TLP foi projetado para simular eventos de ESD do tipo CDM e capturar a tensão e a corrente que passam pelo DUT sob a injeção de ESD de alta velocidade (por exemplo, tempo de aumento < 100 ps). Esse teste pode ser usado para estudar características como a velocidade de resposta do dispositivo e a tensão de pico da pinça.

A função de teste do modelo de metal humano (HMM) é um método de teste alternativo para ESD de nível de sistema IEC61000-4-2. Ele fornece a forma de onda equivalente ideal para dispositivos de baixa resistência e elimina muitos problemas de teste de pistola IEC para testes de nível de componente ou de wafer, como má repetibilidade, posições imprecisas de injeção de ponta de pistola, incompatibilidade de impedância, interferência EMI de relés não blindados e requisitos especiais de dispositivo que exigem grandes planos de terra e planos de acoplamento.

Características do produto

Sistema de curva de pulso IV TLP flexível

Design ultra-compacto

Velocidade de teste ultra-rápida com capacidade de processamento multithread

Oferecer20 Ae40Ae50 Ae100 Ae125Ae150 AModelo (pode ser personalizado)

Software de teste avançado, equipamentos de teste de sistemas de controle e monitoramento programáveis e acessórios (detecção de vida útil de interruptores, módulos E-CAL, oscilações)dicas de ajuste de atenuação do medidor, etc.)

Várias funções de teste podem ser expandidas:VF-TLPeHMMeda HBMeMM

Vários métodos de detecção automática de falhas(Detecção DC)O VouEuouIVvarredura, fusão, ruptura e desvio de mudanças de corrente)

Pulso de controle de software: pulso único, pulso contínuo,IVTeste de varredura de curvas

Tempo de subida opcional:40 PSpara1200 ns(Dependendo do modelo, pode ser personalizado)

Largura de pulso opcional:0,5 nspara2000 ns(Dependendo do modelo, pode ser personalizado)


Aplicações do produto

Caracterização do desempenho ESD

Teste ESD de nível de wafer/embalagem

Teste ESD de módulos de sistema/circuito

Teste de Área de Operação Segura (SOA)

Teste de tempo de recuperação de carga

Características do diodo do painel solar

Teste de fusão e ruptura de fios de microbanda ITO de tela táctil


Critérios relevantes:


Opções TLP/VF-TLP em conformidade com ANSI/ESD STM 5.5.1 Opções HMM em conformidade com ANSI/ESD SP5.6

Opções HBM em conformidade com ANSI/ESDA/JEDEC JS-001

Opções MM em conformidade com ANSI/ESDA SP5.2


Sistema de curva IV de pulso TLP da série ES622Especificações do produto

Especificações da Unidade TLP Série ES622
Modelo típico ESS622-20 ESS622-50 ESS622-100 ESS622-125 ESS622-150 Unidade

* Modelos especiais disponíveis a pedido, por exemplo, 40/60/80/100/200+A

Tensão de saída de circuito aberto ± 0.5 ~1000 ± 0.5 ~2500 ± 0.5 ~5000 ± 0.5 ~6250 ± 0.5 ~7500 O V
Passo mínimo de tensão 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 O V
Corrente de saída de curto circuito ± 0.01 ~20 ± 0.01 ~50 ± 0.01 ~100 ± 0.01 ~125 ± 0.01 ~150 Um
Precisão da tensão Precisão ajustada entre 1% e 10% % Velocidade / precisão software ajustável
Tempo de aumento mais rápido* (padrão 20-80%)
≤50 ≤200 ≤300 ≤300 ≤300 p.s. Tempo de aumento mais rápido de 40ps (10-90%)
Intervalo de tempo ascendente 0.04~1200 0.2~1200 0.3~1200 0.3~1200 0.3~1200 ns
Opções do tempo de subida Opções ilimitadas de programação ou manual
Personalizável
Largura de pulso padrão 100±1 ns 50-50%
Largura de pulso mínima 0.5 1 5 5 5 ns
Largura de pulso máxima 2000 2000 1500 1500 1000 ns
Opções de largura de pulso Opções ilimitadas de programação ou manual
Personalizável
Velocidade de teste Normalmente 0,2-2 sec Diferente dependendo das configurações de hardware
Dimensões 347 W X 300 D X 145 H
milímetros Pode mudar devido à personalização
peso 8 8 8 10 12 quilogramas
Oscilloscópios suportados Principais coleções de Tektronix, Agilent, LeCroy, Rigol Outros suportes disponíveis a pedido
SMU suportado SMU da série Keithley 24xx/26xx Outros suportes disponíveis a pedido








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