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E-mail
mike.zhang@baselec.com,sunny.liu@baselec.com,sales@baselec.com
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Telefone
13812620346,13451671799
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Endereço
Apartamento 1106, Edifício 1, Donghuan, Parque Industrial de Suzhou, província de Jiangsu, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 3, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1, Edifício 1
Categorias do produto
Suzhou Betser Electronic Technology Co., Ltd.
Eletroscópio de feixe de íons focado
NegociávelAtualização em02/14
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
Características técnicas: Recolha de informações mais ricas em menos tempo para acelerar a nanotomografia e o nanoprocessamento: combina o desempenho de SEM de baixa tensão com fluxos de feixe FIB de até 100nA
Detalhes do produto
• Características técnicas:
Recolha informações mais ricas em menos tempo
Acelerar a nanotomografia e o nanoprocessamento: combina o desempenho de SEM de baixa tensão com fluxos de feixe FIB de até 100 nA.
Obtenha a maior quantidade de informações: captura de múltiplos detectores e capacidade de gravação e imagem sincronizadas.
Detecção de grandes faixas de campo de visão de até 50 k x 40 k pixels com a tecnologia GEMINI e o pacote 3D ATLAS opcional.
Controle completo do processo
Máxima estabilidade em longas experiências exigentes em condições ambientais e capacidade de fornecer perfis de feixe uniformes e consistentes.
As alterações em tempo real dos parâmetros do sistema, como a corrente da sonda ou a tensão de aceleração, podem ser realizadas durante a captura sem a necessidade de ajustar a imagem.
A interface gráfica do usuário é intuitiva e fácil de operar.
Área de aplicação
