Microscópio eletrônico de varredura de emissão térmica de alta resolução

NegociávelAtualização em03/17

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O microscópio eletrônico de varredura Apreo, com o design de lentes compostas SEMApre de alto desempenho, combina as tecnologias de imersão eletrostática e magnética para gerar alta resolução e seleção de sinal

Detalhes do produto

Microscópio eletrônico de varredura

Apreo

SEM de alto desempenho rico em recursos

O design da lente composta Apreo combina a tecnologia de imersão eletrostática e magnética para gerar alta resolução e seleção de sinal. Isso torna a Apreo uma plataforma de pesquisa para estudar nanopartículas, catalisadores, pó e nanodispositivos sem diminuir o desempenho das amostras magnéticas.

A Apreo beneficia-se da detecção de dispersão traseira dentro da lente, que oferece um excelente contraste de material, mesmo em inclinações, distâncias de trabalho curtas ou para amostras sensíveis. A nova lente composta melhora ainda mais o contraste através da filtragem de energia e aumenta a filtragem de carga elétrica para imagens de amostras isolantes. O modo de baixo vácuo opcional, com uma pressão máxima de 500 Pa no compartimento de amostras, permite a imagem de isolantes exigentes.

Com essas vantagens, incluindo lentes finais compostas, detecção avançada e processamento flexível de amostras, a Apreo oferece excelente desempenho e versatilidade para ajudá-lo a enfrentar os desafios de pesquisa do futuro.

Apreo Aplicações de Ciência de Materiais

O novo microscópio eletrônico de varredura (SEM) Apreo detecta uma ampla variedade de materiais, como nanopartículas, metais, compostos e revestimentos, e incorpora recursos inovadores para oferecer melhor resolução, contraste e facilidade de uso.

As lentes finais compostas exclusivas oferecem uma excelente resolução (1,0 nm a uma tensão de 1 kV) em qualquer amostra, mesmo em inclinação ou topografia, sem a necessidade de desaceleração do feixe de elétrons.
Detecção de retrodispersão - Sempre garantido um bom contraste do material, mesmo quando a imagem de taxa de TV de amostras sensíveis ao feixe de eletrões é realizada em baixa tensão e corrente de feixe de eletrões e em qualquer ângulo de inclinação.
Detector - combina as informações fornecidas por cada seção do detector para obter contrastes ou intensidade de sinal críticos.

Experimente as vantagens do Apreo SEM

Lentes finais compostasUma excelente resolução (1,0 nm a uma tensão de 1 kV) é fornecida em qualquer amostra, mesmo em inclinação ou topografia, sem a necessidade de desaceleração do feixe de eletrões.
Detecção de dispersão traseira- Sempre garantir um bom contraste de material, mesmo quando a imagem de taxa de TV de amostras sensíveis ao feixe de eletrões é realizada em baixa tensão e corrente de feixe de eletrões e em qualquer ângulo de inclinação.
DetectoresAs informações fornecidas por cada seção do detector podem ser combinadas para obter contrastes ou intensidade de sinal essenciais.
Várias estratégias de redução de cargaIncluindo um modo de baixo vácuo com pressões no compartimento de amostras de até 500 Pa, a imagem de qualquer amostra é possível.
Plataforma de análise:Fornece uma alta corrente de feixe de eletrões e uma pequena mancha. Armazém de amostras com suporte a três detectores EDS, EDS e EBSD combinados e sistemas de baixo vácuo otimizados para análise
Manipulação de amostras e navegação muito simplesCom suporte para amostras multiusos e Nav-Cam+.

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