IC para microscópio FJ-5

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O microscópio metálico de classe de pesquisa FJ-5 foi desenvolvido para a indústria de semicondutores, a indústria de fabricação de placas de silício, a indústria de informações eletrônicas e as necessidades da indústria metalúrgica, como os usuários de microscópios metálicos podem experimentar seu desempenho super forte quando usados. FPD、 Inspeção de embalagens de circuitos, substratos de circuitos, materiais, peças fundidas/metálicas/cerâmicas, moldes de precisão

Detalhes do produto

O microscópio metálico de pesquisa FJ-5 foi desenvolvido para a indústria de semicondutores, a indústria de fabricação de placas de silício, a indústria de informações eletrônicas e as necessidades da indústria metalúrgica, como os usuários de microscópios metálicos podem experimentar seu desempenho super forte quando usados. FPD、 Inspeção de embalagens de circuitos, substratos de circuitos, materiais, peças fundidas/metálicas/cerâmicas, moldes de precisão. Este instrumento usa duas formas de iluminação de reflexão e transmissão, sob a iluminação de luz refletida, pode ser realizada observação de campo claro e escuro e observação DIC, observação de polarização. Observação sob luz transmitida. Um sistema óptico estável e de alta qualidade torna a imagem mais clara e o revestimento melhor. O design atende aos requisitos de ergonomia para que você se sinta confortável e relaxado no trabalho.
Descrição das características
Adotou a tecnologia de imagem de objetivos de alta resolução e de longa distância de trabalho do sistema de correção de vias ópticas do UIS.

Expandiu a tecnologia de reutilização de objetos, o telescópio é compatível com todos os métodos de observação, incluindo o método de campo de visão claro e escuro, polarização, DIC e oferece qualidade de imagem de alta definição em cada método de observação.

Adote iluminação Kohler não esférica para aumentar o brilho da observação.

WF10× (Φ25) óculos de campo de visão ultra-grande, objetos metálicos de campo claro e escuro de longa distância de trabalho.

Convertidor para dispositivos de interferência diferencial DIC.

Especificações técnicas
Cabeça de observação	Trio articulado de 30° (50mm-75mm)
óculos	WF10×/25mm
óculos	WF10×/20mm, com placa de divisão cruzada de 0,1 mm
Objetivos	Trabalho de longa distância. Distância de campo escuro: 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm, 10×/0.25B.D/W.D.16mm, 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm, 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm,
Conversor	Convertidor de quatro buracos com jack DIC
Plataforma	Plataforma móvel de duas camadas
	Dimensão da plataforma: 189mm x 160mm
	Alcance móvel: 80mm x 50mm
Filtro de cores	Filtro de cores em placa (verde, azul, neutro)
Espelho de Foco	N.A.1.25 Abe Focus com apendice de luz variável e filtro de cores
Foco	Coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial coaxial Valor de micrograma 0.002mm
Fonte de Luz	Iluminação transmissível: lâmpada de halógeno 12V / 50W, AC85V-230V, brilho ajustável
Fonte de Luz	Iluminação de lançamento: com barra de luz de abertura e barra de luz de campo de visão, lâmpada halogênica 12V / 50W, AC85V-230V, brilho ajustável
Dispositivo de polarização	Espelho de polarização pode ser girado em 360 graus, espelho de polarização, espelho de polarização podem ser movidos para fora do caminho de luz
Ferramentas de teste	0.01mm medição
Acessórios disponíveis	Software de medição 2D
	Software profissional de análise de imagens metálicas
	Iluminação de lançamento: lâmpada de halógeno 12V / 100W, AC85V-230V, brilho ajustável
	Objetivos de campo claro e escuro de longa distância de trabalho de campo plano: 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm, 100×/0.80B.D/W.D.3mm
	Microscópio
	Óculos eletrônicos CMOS de 1,3, 2, 3 e 5 milhões de pixels
	Interfaces fotográficas e CCD 0,5×, 0,57×, 0,75×
	DIC (10×, 20×, 40×, 100×)
	Máquina de pressão
	Cor 1/3 polegada CCD 520 linhas

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