Elipômetro de matriz de Mueller de amplo espectro ME-L

Visão geral

O ME-L é um elipômetro de alta precisão de matriz de Müller totalmente automático de nível científico que reúne os anos de investimento da equipe de pesquisa de Summerlight na tecnologia de elipse, usando as mais recentes tecnologias inovadoras do setor, incluindo compensadores de desvio de cor, controle sincronizado de compensadores de rotação dupla, análise de dados de matriz de Müller e muito mais. Pode ser aplicado a uma variedade de análises de caracterização de espessuras de membranas de materiais de película homogênica / heterogênica, constantes de nano-rastre óptica e estruturas de materiais de nano-rastre unidimensionais / bidimensionais.

O compensador de rotação dupla (DRC) é configurado para medir todos os 16 elementos da matriz de Mueller de uma só vez; Configurar módulos de hardware de alta qualidade como transformadores automáticos e plataformas de controle de amostras 5D; Interface interativa do software com design auxiliar guiado, fácil de usar e fácil de operar; Uma rica biblioteca de bancos de dados e modelos geométricos que garante uma capacidade de análise de dados robusta.

I. Características do produto
1, a utilização de lâmpada de deutério e lâmpada de halogênio fonte de luz composta, cobertura espectral ultravioleta para infravermelho próximo (193-2500nm);



2, pode realizar o processamento de dados de matriz de Mueller, maior quantidade de informações de medição, velocidade de medição rápida e dados mais precisos;



Com base na configuração do compensador de rotação dupla, 16 elementos de toda a matriz de Mueller podem ser medidos de uma só vez, e informações de medição mais ricas e abrangentes podem ser obtidas em relação ao elipímetro espectral tradicional;



Tecnologia patenteada de luz de verão garante uma ampla gama de espectro, fornecendo alta qualidade e estável em todas as bandas de espectro;





Centenas de bancos de dados de materiais, várias bibliotecas de modelos de algoritmos, cobrindo a grande maioria dos materiais fotoelétricos atuais;



Análise integrada de nano-raster, que pode medir e analisar ao mesmo tempo o ciclo de nanoestrutura, a largura da linha, a altura da linha, o ângulo da parede lateral, a rugosidade e outras informações geométricas;




II. Aplicação do produto
Estrutura de película semicondutora: película dielétrica, película metálica, polímero, fotogravura, silício, película PZT, diódodo laser GaN e AlGaN, aparelhos eletrônicos transparentes, etc.;
Nanoestruturas periódicas de semicondutores: nano-raster, erro de gravação, memória de transição de fase tipo T, etc.;
Novos materiais, estudos de novos fenômenos físicos: oposição óptica dos materiais, efeito de luz elétrica, efeito de reflexão, efeito de luz sonora, efeito magnético-óptico, efeito de rotação, efeito Kerr, efeito Farady, etc.;
Tela plana: TFT, OLED, painel de plasma, painel de exibição flexível, etc.;
Energia solar fotovoltaica: material fotovoltaico (como Si3N4, Sb2Se3, Sb2S3, CdS, etc.) refletidão, medição do fator de dissipação de luz, espessura da camada de membrana e medição da rugosidade da superfície, etc.;
Revestimentos funcionais: permeabilidade, auto-limpeza, decoloração eletrônica, revestimento óptico espelhado, e revestimento e tratamento de superfícies de polímeros, óleos, Al2O3, etc.;
Engenharia biológica e química: película orgânica, membrana LB, membrana SAM, camada molecular de proteína, adsorção de película fina, tratamento de modificação de superfície, etc.;
Análise de materiais em bloco: caracterização da taxa de refração n e do fator de dissipação k de sólidos (metais, semicondutores, meios, etc.) ou líquidos (produtos puros ou misturas), desenvolvimento de novos produtos de vidro e controle de qualidade, etc.
Acessórios recomendados

Controle de temperatura	Extensão Mapping	Bomba de vácuo	Componentes de adsorção de transmissão