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O microscópio OLS5000 da Olympus

Modelo
Natureza do fabricante
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Categoria do produto
Local de origem
Visão geral
O microscópio de medição a laser confocal Olympus OLS50003D LEXTOLS5000O microscópio de medição a laser confocal Olympus OLS50003D usa um sistema óptico avançado para gerar imagens de alta qualidade através de observações não destrutivas para medições 3D precisas, medições de rugosidade da superfície em conformidade com os padrões ISO e muito fácil de preparar sem pré-tratamento de amostras.
Detalhes do produto
Microscópio de confocação laser 3D LEXT OLS5000


O microscópio de medição a laser confocal OLS5000 3D da Olympus usa um sistema óptico avançado para gerar imagens de alta qualidade através de observações não destrutivas para medições 3D precisas, medições de rugosidade de superfície em conformidade com os padrões ISO e muito mais.

LEXT OLS5000 3DO microscópio a laser de medição é equipado com dois sistemas ópticos (o sistema óptico de imagem colorida e o sistema óptico confocal a laser) que lhe permitem obter informações coloridas, informações de altura e imagens de alta resolução.


LEXT OLS5000 3DO microscópio laser de medição tem4Valores chave:

·Captura qualquer forma de superfície.

·Acesso rápido a dados confiáveis.

·Fácil de usar-Basta colocar a amostra e pressionar o botão.

·Medição de amostras desafiadoras.

Valor1Captura qualquer forma de superfície.

OLS5000A tecnologia avançada do microscópio lhe permite realizar3DMedição de amostras.


Valor2Acesso rápido a dados confiáveis

O algoritmo de varredura deste microscópio melhora a qualidade dos dados e a velocidade, reduzindo o tempo de varredura e simplificando o seu fluxo de trabalho.zuiFinalmente, o aumento da produtividade.


Valor3Fácil de usar, basta colocar a amostra e pressionar o botão

LEXT ® OLS5000O microscópio possui a capacidade de coleta automática de dados e, portanto, não requer ajustes complexos de configuração. Mesmo usuários negligentes podem obter resultados precisos.


Valor4Medição de amostras desafiadoras

A medição a laser sem dano e sem contato de baixa saída significa que a preparação da amostra não é necessária. Pode ser medido sem danificar o material vulnerável. A extensão pode acomodar até210Amostras de milímetros, enquanto objetivos de longa distância de trabalho podem medir profundidades de até25um buraco de milímetros. Para medir ambos os tipos de amostras, basta colocar a amostra no suporte.


[Obter informações de cor]
O sistema óptico de imagem a cores utiliza a luz brancaLEDFontes de luz eCMOSA câmera obtém informações coloridas.
[Obter3DImagens confocais de alta informação e alta resolução]
Sistema óptico confocal a laser405Fontes de luz de diodos nano-laser e fotomultiplicadores de alta sensibilidade para obter imagens confocais. A profundidade de foco leve permite que ele seja usado para medir irregularidades superficiais de amostras.


[405Fonte de Luz Nano Laser]

A resolução horizontal do microscópio óptico aumenta à medida que o comprimento de onda diminui. O microscópio laser com laser de comprimento de onda curto em comparação com a luz visível (pico)550O microscópio nano) tradicional tem uma melhor resolução horizontal.OLS5000Utilização do microscópio405Os diodos laser de comprimento de onda nano-curto obtêm uma excelente resolução horizontal.


[Sistema óptico confocal a laser]

O sistema óptico confocal a laser só recebe a luz focada através de um orifício redondo e não capta toda a luz refletida e dispersa da amostra. Isso ajuda a eliminar a confusão, permitindo-lhe obter imagens com maior contraste do que o microscópio comum.


[X-YScanner]

OLS5000O microscópio é equipado com um scanner óptico Olympus. Através da indução eletromagnéticaMEMSScanner de ressonânciaXEixo e adoçãoGalvanoScanner de anelscópioYA combinação de eixos permiteX-YO scanner está localizado em relação à conjugação da pupila do objetivo, permitindo a excelência com menor distorção da trajetória de varredura e menor desvio ópticoX-YDigitalização.


[Princípio de medição de altura]

Ao medir a altura, o microscópio obtém várias imagens confocais movendo automaticamente a posição de foco.
De acordo com a posição de foco não contínua (ZDetecção da intensidade da luz (IÉ possível estimar a variação da intensidade da luz em cada pixel (I-Zcurva) e obter sua posição de pico e intensidade de pico. Como a posição de pico de todos os pixels corresponde à irregularidade da superfície da amostra, é possível obter3DInformações de forma. Da mesma forma, os dados de intensidade de pico permitem obter imagens com foco em todas as posições na superfície da amostra (imagens expandidas).



Especificações do host:

Modelo

OLS5000-SAF

OLS5000-SMF

OLS5000-LAF

OLS5000-EAF

OLS5000-EMF

Magnificação Total

54x - 17,280x

Diâmetro do campo de visão

16 μm - 5,120 μm

Princípio de medição

Sistema óptico

Microscópio laser de varredura confocal reflexivo
Microscópio de varredura a laser confocal reflexivo-DIC
Cor
DIC de cor

Componente de recepção de luz

Laser: duplicador fotoelétrico (2ch)
Cor: Câmera colorida CMOS

Medição de altura

Resolução de exibição

0.5 Nano

Escala dinâmica

16 Bits

Repetibilidade n-1*1*2*6

20x : 0.03μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm

Precisão * 1 * 3 * 6

Valor de medição +/- 1,5%

Precisão da imagem de junção * 1 * 4 * 6

20x : 15+0.5Lμm, 50x: 9+0,5L μm, 100x: 7+0,5L μm (L: comprimento da junta [μm])

Ruído de medição (ruído SQ) * 1 * 5 * 6

1 Nano

Medição da largura

Resolução de exibição

1 Nano

Repetibilidade 3 n-1 *1 *6

20x : 0.05μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm

Precisão * 1 * 3 * 6

Valor de medição +/- 1,5%

Precisão da imagem de junção * 1 * 3 * 6

20x : 15+0.5Lμm, 50x: 9+0,5L μm, 100x: 7+0,5L μm (L: comprimento da junta [μm])

Grande número de pontos de medição zui em uma única medição

4096 x 4096Pixel

Grande número de pontos de medição zui

3600 Megapixels

XYConfiguração da mesa de transporte

Módulo de medição de comprimento

Nenhum

Nenhum

Nenhum

Área de trabalho

100 x 100 mmelétrico

100 x 100 mmManual

300 x 300 mmelétrico

100 x 100 mmelétrico

100 x 100 mmManual

zuiAltura da amostra grande

100 mm

30 mm

30 mm

210 mm

140 mm

Fonte de luz laser

comprimento de onda

405 nm

zuiGrande saída

0.95 mW

Classificação laser

2 Classes (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)

Fonte de luz colorida

Luz branca LED

Potência elétrica

240 W

240 W

278 W

240 W

240 W

Qualidade

Corpo do microscópio

Cerca de 31 kg

Cerca de 30 kg

Cerca de 50 kg

Cerca de 43 kg

Cerca de 39 kg

Controlador

Cerca de 12 kg