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Quarto 409, Triângulo Internacional de Pesquisa e Desenvolvimento, Avenida de Songcheng, Nova Cidade, Suzhou
Suzhou Deju Micro Instrumentos Co., Ltd.
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Microscópio eletrônico automático de feixe múltiplo 100 vezes mais rápido, sistema de microimagem eletrônica de próxima geração O FAST-EM da delmic é um microscópio eletrônico multifeixe automático ultra-rápido projetado para tornar projetos de microobservação complexos e grandes simples e eficientes.O FAST-EM possui a capacidade de coleta automática de dados, por isso este sistema de alto fluxo é ideal para a imagem de amostras grandes ou múltiplas para análise quantitativa.O sistema oferece poderosas capacidades de microimagem e, ao mesmo tempo, simplifica drasticamente o fluxo de trabalho, permitindo que os usuários se concentrem da operação do microscópio para a análise de dados realmente de alto valor.
FAST-EM,É essencial para análise estrutural 3D em grande escala e imagens 2D em lote,Pode ser usado para explorar:
Imagem mais rápida 64 feixes de eletrões paralelos com tempo de residência ultra curto para velocidades de coleta de dados ultra-rápidas Foco na análise de dados Sem supervisão do usuário, o sistema coleta dados automaticamente, permitindo que os usuários se concentrem na própria análise de dados Conseguir um alto fluxo contínuo
Conciliar detalhes ultra-microscópicos com grandes horizontes
Obter ultra-microestruturas em nanoescala enquanto colher amostras de imagem em grande escala.
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