Caixa de teste de vida acelerada de alta pressão HAST

Caixa de teste de vida acelerada de alta pressão HAST*Principalmente para testar a capacidade de umidade de embalagem de semicondutores, os produtos a serem testados são colocados sob temperatura, umidade e pressão severas, a umidade penetrará no corpo de embalagem ao longo da interface do colóide ou do colóide e do suporte de fios, o modo comum de falha é a corrosão ativa da área de metalização causada pela interrupção ou curto-circuito entre os pinos do corpo devido à poluição. O PCTZ é principalmente para testar a capacidade de umidade da embalagem de semicondutores. Os produtos a serem testados são colocados sob temperaturas, umidade e pressão rigorosas, e a umidade penetra no corpo da embalagem ao longo do colóide ou da interface do colóide com o suporte de fios.

◆ Projeto de bomba de vácuo (extração de ar dentro da caldeira) para melhorar a estabilidade da pressão e a reprodutividade;

◆ Tempo de operação experimental ultra-longa eficácia, 300 horas de operação da plataforma experimental de longo tempo;

◆ Design de secagem, terminação do teste do projeto de secagem a vácuo para garantir a secagem da área de teste (a ser testada);

◆ Proteção do nível da água, através da detecção do sensor de nível da água no forno;

◆ design de resistência à pressão, resistência à pressão da caixa (140 ℃) 2,65 kg, em conformidade com o teste de pressão da água 6k;

◆ Dispositivo de proteção de segurança de pressão de dois estágios, com controlador combinado de dois estágios e dispositivo de proteção de pressão mecânica;

◆ botão de descarga de segurança, botão de descarga automática de dois segmentos do dispositivo de segurança de emergência;

Caixa de teste de vida acelerada de alta pressão HAST*