Espessometros de membrana óptica diferencial (série OPTM)

NegociávelAtualização em01/02

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Visão geral

Os espessurômetros de membrana óptica diferenciais (série OPTM) usam microespectrometria para medir a refletidão absoluta em pequenas áreas, permitindo uma análise de alta precisão da espessura da membrana / constante óptica. Medir a espessura de filmes revestidos de forma não-destrutiva e sem contato, como filmes, chips, materiais ópticos e filmes multicamadas.

Detalhes do produto

Espessometros de membrana óptica diferencial (série OPTM)

Medir a refletidão ** da membrana alvo, medir a espessura da membrana de alta precisão e constantes ópticas! Não-Contato · Não-Destruição · Microscopia

Tempo de medição de apenas 1 segundo!

A série OPTM utiliza microespectrometria para medir a refletidão ** em pequenas áreas, permitindo análises de alta precisão de espessura de membrana / constante óptica. Medir a espessura de filmes revestidos de forma não-destrutiva e sem contato, como filmes, chips, materiais ópticos e filmes multicamadas. Medição de alta velocidade de 1 segundo/ponto no tempo de medição e software que facilita a análise de constantes ópticas, mesmo para usuários iniciais

显微分光膜厚仪（OPTM系列）

Características do produto:

Cabeça com funções necessárias para medição da espessura da película

Medição de alta precisão** da refletidão por microespectrometria (espessura de membrana de camadas múltiplas, constante óptica)

Medição de alta velocidade em 1:1 segundo

Sistema óptico de ampla gama sob luz diferencial (ultravioleta*** infravermelho próximo)

Mecanismo de segurança dos sensores de área

Assistente de análise fácil para iniciantes com análise de constantes ópticas

Cabeça de medição independente para diversas necessidades de personalização inline

Suporta várias personalizações

Projetos de medição:

** Medição da Reflexividade

Análise de camadas múltiplas

Análise de constantes ópticas (n: índice de refração, k: fator de extinção)

Aplicação:

Semicondutores: ajuste automático de amostras de wafers, detecção de curvatura de wafers

Componentes ópticos: detecção de radiotaxa, curvatura, etc. das lentes da lente

Espessometros de membrana óptica diferencial (série OPTM)Especificações do produto:

	O OPTM-A1	O OPTM-A2	O OPTM-A3
Intervalo de comprimento de onda	230 a 800 nm	360 ~ 1100 nm	900 a 1600 nm
Gama de espessura da membrana	1nm ~ 35μm	7nm ~ 49μm	16nm ~ 92μm
Tempo de medição	1 segundo / 1 ponto
Tamanho da mancha	10 μm (*** pequeno aproximadamente 5 μm)
Sensores de luz	CCD		InGaAs
Especificações da fonte de luz	lâmpada deutério + halógeno		Lâmpadas de halogênio
Especificações de energia	AC100V±10V 750VA (especificação do banco de amostras automático)
Dimensões	555(L) × 537(D) × 568(H) mm (parte principal das especificações da mesa de amostragem automática)
peso	Cerca de 55 kg (parte principal das especificações da mesa de amostragem automática)

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