Spectralon ® Placa padrão de reflexão difusa de calibração de comprimento de onda multicomponente

Spectralon ® As amostras de calibração de comprimentos de onda multicomponente contêm óxidos de três elementos de terras raras: óxido de hólmio, óxido de palódio e óxido de trânio, proporcionando uma amostra sempre estável, com picos mais elevados e propriedades de absorção fortes. Esta placa padrão é usada para estabelecer escalas de comprimento de onda de alta precisão para fotometros distribuídos de reflexão. Perfeitamente adequado para a calibração de monocromáticos e matrizes de sistemas fotométricos distribuídos de reflexo.

A amostra também vem com comprimentos de onda de absorção de pico e dados de calibração relacionados à absorção de luz **. Calibração rastreável*** Instituto Nacional de Padrões e Tecnologia (NIST).

Manual do produto:Revestimentos e materiais de reflexão difuso, placas de alvo de reflexão difuso e placas padrão.pdf